波長重復(fù)性
定義:多次波長測量值中的最大值、最小值之差就叫波長重復(fù)性。它直接影響儀器的穩(wěn)定性。
測試方法:用汞燈的253.7rim或氘燈的656.1rim測試[21;實(shí)測5次,其最大值和最小值之差即是波長重復(fù)性(據(jù)美國NBS和ASTM標(biāo)準(zhǔn)判斷)[1] 。
光譜帶寬
定義:單色儀出射狹縫譜面上單位長度上的光譜數(shù)叫光譜帶寬。
測試方法:用“譜線輪廓法測試,檢測氘燈的特征線656.1nm(或汞燈的特征線253.7nm、546.1nm)。每燈各實(shí)測3次,取均值即是(美國NBS標(biāo)準(zhǔn))[1] 。
雜散光
定義:測量中不應(yīng)該有光的地方有光叫雜散光(SL)。它是分析誤差的主要來源之一,會(huì)直接限制儀器的檢測上限。
測試方法:冷態(tài)開機(jī)預(yù)熱30min,SBW=2nm,用標(biāo)準(zhǔn)光源或標(biāo)準(zhǔn)片測試口;如:用He—Ne Laser(標(biāo)準(zhǔn)光源),在632.8±5nm處測試。實(shí)測3次,取均值即是(法國JY標(biāo)準(zhǔn))。用截止濾光片法,在220nm和340nm處測試。實(shí)測3次,取均值即是(中國GB標(biāo)準(zhǔn),國際上均如此)。